Digital Circuit Testing and Testability

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· 제목 : Digital Circuit Testing and Testability (The Morgan Kaufmann Series in Computer Architecture and Design) (Hardcover, 1)
· 분류 : 외국도서 > 기술공학 > 기술공학 > 전자공학 > 회로
· ISBN : 9780124343306
· 쪽수 : 199쪽
· 출판일 : 1997-01-28

저자소개

파라그 랄라 (지은이) 정보 더보기

텍사스A&M대학교 텍사캐나 캠퍼스(Texas A&M University Texarkana)의 전기공학과 교수이며, 일곱 권의 책과 145여 편의 논문을 단독/공동으로 저술했다. 현재 연구 관심 분야는 양자 컴퓨팅과 암호화, 하드웨어 기반 DNA 서열 매칭, 생체 모방형 프로그래머블 디지털 시스템 설계 등이다. IEEE 종신 회원이다.

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