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책 정보
· 제목 : Thermal-Aware Testing of Digital VLSI Circuits and Systems (Paperback, 1)
· 분류 : 외국도서 > 기술공학 > 기술공학 > 전력자원 > 전기 에너지
· ISBN : 9780367607098
· 쪽수 : 118쪽
· 출판일 : 2020-06-30
· 분류 : 외국도서 > 기술공학 > 기술공학 > 전력자원 > 전기 에너지
· ISBN : 9780367607098
· 쪽수 : 118쪽
· 출판일 : 2020-06-30
목차
1.VLSI Testing ? An Introduction. 2.Circuit Level Testing. 3. Test Data Compression. 4. System-on-Chip Testing. 5. Network-on-Chip Testing.
