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책 정보
· 제목 : Failure Mechanisms in Semiconductor Devices (Hardcover, 2, Revised)
· 분류 : 외국도서 > 기술공학 > 기술공학 > 전자공학 > 반도체
· ISBN : 9780471954828
· 쪽수 : 360쪽
· 출판일 : 1997-08-04
· 분류 : 외국도서 > 기술공학 > 기술공학 > 전자공학 > 반도체
· ISBN : 9780471954828
· 쪽수 : 360쪽
· 출판일 : 1997-08-04
목차
Reliability Mathematics.
Principal Failure Mechanisms.
Failure Mechanisms in Technologies and Circuits.
Reliability Testing.
Reliability Prediction.
Screening.
Failure Analysis.
Quality Assurance.
Appendix.
Indexes.
