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Frontiers of Characterization and Metrology for Nanoelectronics: 2007 International Conference on Frontiers of Characterization and Metrology for Nano

Frontiers of Characterization and Metrology for Nanoelectronics: 2007 International Conference on Frontiers of Characterization and Metrology for Nano (Hardcover, 2007)

맥도날드 (Robert McDonald), David G. Seiler, Alain C. Diebold, C. Michael Garner, Dan Herr (엮은이)

Amer Inst of Physics

311,010원

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Frontiers of Characterization and Metrology for Nanoelectronics: 2007 International Conference on Frontiers of Characterization and Metrology for Nano

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책 정보

· 제목 : Frontiers of Characterization and Metrology for Nanoelectronics: 2007 International Conference on Frontiers of Characterization and Metrology for Nano (Hardcover, 2007)
· 분류 : 외국도서 > 기술공학 > 기술공학 > 측량
· ISBN : 9780735404410
· 쪽수 : 578쪽
· 출판일 : 2007-09-01

저자소개

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