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책 정보
· 제목 : Digital Hardware Testing: Transistor-Level Fault Modeling and Testing (Hardcover) 
· 분류 : 외국도서 > 기술공학 > 기술공학 > 전자공학 > 회로
· ISBN : 9780890065808
· 쪽수 : 340쪽
· 분류 : 외국도서 > 기술공학 > 기술공학 > 전자공학 > 회로
· ISBN : 9780890065808
· 쪽수 : 340쪽
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