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책 정보
· 제목 : Thermal Testing of Integrated Circuits (Hardcover)
· 분류 : 외국도서 > 기술공학 > 기술공학 > 전자공학 > 회로
· ISBN : 9781402070761
· 쪽수 : 204쪽
· 출판일 : 2002-06-30
· 분류 : 외국도서 > 기술공학 > 기술공학 > 전자공학 > 회로
· ISBN : 9781402070761
· 쪽수 : 204쪽
· 출판일 : 2002-06-30
목차
1. Introduction to the Testing of Integrated Circuits. 2. Thermal Transfer and Thermal Coupling in IC's. 3. Thermal Analysis in Integrated Circuits. 4. Temperature as a Test Observable Variable in IC's. 5. Thermal Monitoring of IC's. 6. Feasibility Analysis and Conclusions. Index.
