책 이미지
책 정보
· 제목 : CMOS Gate-Stack Scaling -- Materials, Interfaces and Reliability Implications: Volume 1155 (Hardcover) 
· 분류 : 외국도서 > 기술공학 > 기술공학 > 재료과학
· ISBN : 9781605111285
· 쪽수 : 194쪽
· 분류 : 외국도서 > 기술공학 > 기술공학 > 재료과학
· ISBN : 9781605111285
· 쪽수 : 194쪽
추천도서
분야의 베스트셀러 >