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책 정보
· 제목 : Integrated Circuit Test Engineering : Modern Techniques (Paperback, 2006 ed.) 
· 분류 : 외국도서 > 기술공학 > 기술공학 > 전자공학 > 회로
· ISBN : 9781846280238
· 쪽수 : 362쪽
· 분류 : 외국도서 > 기술공학 > 기술공학 > 전자공학 > 회로
· ISBN : 9781846280238
· 쪽수 : 362쪽
목차
to Integrated Circuit Test Engineering.- Fabrication Processes for Integrated Circuits.- Digital Logic Test.- Memory Test.- Analogue Test.- Mixed-Signal Test.- Input-Output Test.- Design for Testability ? Structured Test Approaches.- System on a Chip (SoC) Test.- Test Pattern Generation and Fault Simulation.- Automatic Test Equipment (ATE) and Production Test.- Test Economics.
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