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책 정보
· 제목 : Yield-Aware Analog IC Design and Optimization in Nanometer-scale Technologies (Hardcover)
· 분류 : 외국도서 > 기술공학 > 기술공학 > 전자공학 > 회로
· ISBN : 9783030415358
· 쪽수 : 237쪽
· 분류 : 외국도서 > 기술공학 > 기술공학 > 전자공학 > 회로
· ISBN : 9783030415358
· 쪽수 : 237쪽
목차
1. Introduction
2. Analog IC Sizing Background
3. Yield Estimation Techniques Related Work
4. Monte Carlo-Based Yield Estimation New Methodology
5. AIDA-C Variation-Aware Circuit Synthesis Tool
6. Tests & Results
7. Conclusion and Future Work
Index
