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책 정보
· 제목 : Soft Error Reliability of VLSI Circuits: Analysis and Mitigation Techniques (Paperback) 
· 분류 : 외국도서 > 기술공학 > 기술공학 > 전자공학 > 회로
· ISBN : 9783030516123
· 쪽수 : 114쪽
· 출판일 : 2021-10-14
· 분류 : 외국도서 > 기술공학 > 기술공학 > 전자공학 > 회로
· ISBN : 9783030516123
· 쪽수 : 114쪽
· 출판일 : 2021-10-14
목차
Introduction: Soft Error Modeling.- Soft Error Rate Estimation of VLSI circuits.- Process Variation Aware Soft Error Rate Estimation Method for Integrated Circuits.- GPU-Accelerated Soft Error Rate Analysis of Large-scale Integrated Circuits.- FPGA Hardware Acceleration of Soft Error Rate Estimation of Digital Circuits.- Soft Error Tolerant Circuit Design using Partitioning-based Gate Sizing.- Resynthesize Technique for Soft Error Tolerant Design of Combinational Circuits.
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