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책 정보
· 제목 : Mitigating Process Variability and Soft Errors at Circuit-Level for FinFETs (Paperback)
· 분류 : 외국도서 > 기술공학 > 기술공학 > 전자공학 > 회로
· ISBN : 9783030683702
· 쪽수 : 131쪽
· 출판일 : 2022-03-11
· 분류 : 외국도서 > 기술공학 > 기술공학 > 전자공학 > 회로
· ISBN : 9783030683702
· 쪽수 : 131쪽
· 출판일 : 2022-03-11
목차
Chapter 1. Introduction.- Chapter 2. FinFET Technology.- Chapter 3. Reliability Challenges in FinFETs.- Chapter 4. Circuit-Level Mitigation Approaches.- Chapter 5. Evaluation Methodology.- Chapter 6. Process Variability Mitigation.- Chapter 7. Soft Error Mitigation.- Chapter 8. General Trade-offs.- Chapter 9. Final Remarks.
