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책 정보
· 제목 : Design for Testability, Debug and Reliability: Next Generation Measures Using Formal Techniques (Paperback)
· 분류 : 외국도서 > 기술공학 > 기술공학 > 전자공학 > 회로
· ISBN : 9783030692117
· 쪽수 : 164쪽
· 출판일 : 2022-04-20
· 분류 : 외국도서 > 기술공학 > 기술공학 > 전자공학 > 회로
· ISBN : 9783030692117
· 쪽수 : 164쪽
· 출판일 : 2022-04-20
목차
Introduction.- Integrated Circuits.- Formal Techniques.- Embedded Compression Architecture for Test Access Ports.- Optimization SAT-based Retargeting for Embedded Compression.- Reconfigurable TAP Controllers with Embedded Compression.- Embedded Multichannel Test Compression for Low-Pin Count Test.- Enhanced Reliability using Formal Techniques.- Conclusion and Outlook.
