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책 정보
· 제목 : Trace-Based Post-Silicon Validation for VLSI Circuits (Hardcover, 2013)
· 분류 : 외국도서 > 기술공학 > 기술공학 > 전자공학 > 반도체
· ISBN : 9783319005324
· 쪽수 : 108쪽
· 출판일 : 2013-06-27
· 분류 : 외국도서 > 기술공학 > 기술공학 > 전자공학 > 반도체
· ISBN : 9783319005324
· 쪽수 : 108쪽
· 출판일 : 2013-06-27
목차
Introduction.- State of the Art on Post-Silicon Validation.- Signal Selection for Visibility Enhancement.- Multiplexed Tracing for Design Error.- Tracing for Electrical Error.- Reusing Test Access Mechanisms.- Interconnection Fabric for Flexible Tracing.- Interconnection Fabric for Systematic Tracing.- Conclusion.
