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책 정보
· 제목 : Angewandte Oberfl?henanalyse Mit Sims Sekund?-Ionen-Massenspektrometrie AES Auger-Elektronen-Spektrometrie XPS R?tgen-Photoelektronen-Spektrometrie (Paperback, Softcover Repri)
· 분류 : 외국도서 > 기타 언어권 도서 > 독일 도서
· ISBN : 9783642701788
· 쪽수 : 302쪽
· 출판일 : 2011-12-06
· 분류 : 외국도서 > 기타 언어권 도서 > 독일 도서
· ISBN : 9783642701788
· 쪽수 : 302쪽
· 출판일 : 2011-12-06
목차
Sekundar-Ionen-Massenspektrometrie.- Auger-Elektronen-Mikroanalyse Grundlagen und Anwendungen.- Rontgen-Photoelektronen-Spektrometrie.
