BOOKPRICE.co.kr
책, 도서 가격비교 사이트

Design for Yield and Reliability for Nanometer CMOS Digital Circuits (Paperback)

(Statistical design, Soft errors modeling, Adaptive body bias, Negative capacitance circuits)

Mohab Anis, Mohamed Elmasry, Mostafa, Hassan (지은이)

LAP Lambert Academic Publishing

143,500원

일반도서

검색중

서점	할인가	할인률	배송비	혜택/추가	실질최저가	구매하기
	136,320원	-5%	0원	4,090원	132,230원	>

검색 결과 내에 다른 책이 포함되어 있을 수 있습니다.

중고도서

검색중

서점	유형	등록개수	최저가	구매하기

eBook

검색중

서점	정가	할인가	마일리지	실질최저가	구매하기

책 이미지

Design for Yield and Reliability for Nanometer CMOS Digital Circuits

eBook 미리보기

책 정보

· 제목 : Design for Yield and Reliability for Nanometer CMOS Digital Circuits (Paperback) (Statistical design, Soft errors modeling, Adaptive body bias, Negative capacitance circuits)
· 분류 : 외국도서 > 기술공학 > 기술공학 > 전자공학 > 일반
· ISBN : 9783659513619
· 쪽수 : 296쪽
· 출판일 : 2014-01-26

저자소개

Mohab Anis (지은이) 정보 더보기

펼치기

Mohab Anis의 다른 책 >

Mohamed Elmasry (지은이) 정보 더보기

펼치기

Mostafa, Hassan (지은이) 정보 더보기

펼치기

Mostafa, Hassan의 다른 책 >