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Test Coverage Analysis (Paperback)

(A method for analyzing test coverage at a structural and functional level of a printed circuit board during the production process)

Francisco Paez (지은이)

LAP Lambert Academic Publishing

133,220원

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책 정보

· 제목 : Test Coverage Analysis (Paperback) (A method for analyzing test coverage at a structural and functional level of a printed circuit board during the production process)
· 분류 : 외국도서 > 기술공학 > 기술공학 > 전자공학 > 일반
· ISBN : 9783838373881
· 쪽수 : 136쪽
· 출판일 : 2010-06-19

저자소개

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