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Thermal Reliability of Power Semiconductor Device in the Renewable Energy System

Thermal Reliability of Power Semiconductor Device in the Renewable Energy System (Hardcover)

Jun Zhang, Cheng Qian, Xiong Du, Gaoxian Li, Yaoyi Yu (지은이)
Springer
331,010원

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Thermal Reliability of Power Semiconductor Device in the Renewable Energy System
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책 정보

· 제목 : Thermal Reliability of Power Semiconductor Device in the Renewable Energy System (Hardcover) 
· 분류 : 외국도서 > 기술공학 > 기술공학 > 전력자원 > 전기 에너지
· ISBN : 9789811931314
· 쪽수 : 172쪽
· 출판일 : 2022-07-09

목차

Introduction.- Thermal fatigue failure mechanism of power devices in renewable energy system.- Thermal model and thermal parameters monitoring.- Thermal analysis of power semiconductor device in renewable energy system.- Multi-time scale lifetime evaluation for the device in the renewable application.- Thermal management design and optimization.- Prospect.

저자소개

Cheng Qian (지은이)    정보 더보기
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Xiong Du (지은이)    정보 더보기
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Gaoxian Li (지은이)    정보 더보기
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Yaoyi Yu (지은이)    정보 더보기
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