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책 정보
· 제목 : Defect-Oriented Testing for Nano-Metric CMOS VLSI Circuits (Hardcover, 2)
· 분류 : 외국도서 > 기술공학 > 기술공학 > 전자공학 > 회로
· ISBN : 9780387465463
· 쪽수 : 328쪽
· 출판일 : 2007-06-21
· 분류 : 외국도서 > 기술공학 > 기술공학 > 전자공학 > 회로
· ISBN : 9780387465463
· 쪽수 : 328쪽
· 출판일 : 2007-06-21
목차
Functional and Parametric Defect Models.- Digital CMOS Fault Modeling.- Defects in Logic Circuits and their Test Implications.- Testing Defects and Parametric Variations in RAMs.- Defect-Oriented Analog Testing.- Yield Engineering.- Conclusion.
