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책 정보
· 제목 : Elements of Electromigration : Electromigration in 3D IC technology (Paperback) 
· 분류 : 외국도서 > 기술공학 > 기술공학 > 재료과학
· ISBN : 9781032470283
· 쪽수 : 142쪽
· 출판일 : 2025-12-25
· 분류 : 외국도서 > 기술공학 > 기술공학 > 재료과학
· ISBN : 9781032470283
· 쪽수 : 142쪽
· 출판일 : 2025-12-25
목차
1. Introduction 2. Driving forces of electromigration 3. Kinetics of electromigration 4. Damage of electromigration 5. Irreversible processes 6. Effect of stress on electromigration 7. Effect of current crowding on electromigration 8. Effect of Joule heating on electromigration 9. Effect of Oxidation on Electromigration 10. Modified Mean-Time-to-Failure Equations
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