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Electromigration in Metals : Fundamentals to Nano-Interconnects (Hardcover)

Martin Gall, Paul Ho, Chao-Kun Hu, Valeriy Sukharev (지은이)

Cambridge University Press

188,170원

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Electromigration in Metals : Fundamentals to Nano-Interconnects

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책 정보

· 제목 : Electromigration in Metals : Fundamentals to Nano-Interconnects (Hardcover)
· 분류 : 외국도서 > 기술공학 > 기술공학 > 재료과학
· ISBN : 9781107032385
· 쪽수 : 400쪽
· 출판일 : 2022-05-12

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