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Performance and Reliability of Semiconductor Devices: Volume 1108 (Paperback)

Michael Mastro, Fan Ren, Jen-inn Chyi, Jeffrey Laroche, Jihyun Kim (지은이)

Cambridge Univ Pr

61,250원

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Performance and Reliability of Semiconductor Devices: Volume 1108

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책 정보

· 제목 : Performance and Reliability of Semiconductor Devices: Volume 1108 (Paperback)
· 분류 : 외국도서 > 기술공학 > 기술공학 > 재료과학
· ISBN : 9781107408494
· 쪽수 : 278쪽
· 출판일 : 2014-06-05

저자소개

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