책 이미지
책 정보
· 제목 : Microelectronic Test Structures for Cmos Technology (Paperback)
· 분류 : 외국도서 > 기술공학 > 기술공학 > 전자공학 > 마이크로 일렉트로닉스
· ISBN : 9781489990556
· 쪽수 : 373쪽
· 분류 : 외국도서 > 기술공학 > 기술공학 > 전자공학 > 마이크로 일렉트로닉스
· ISBN : 9781489990556
· 쪽수 : 373쪽
목차
Introduction.- Test Structure Basics.- Resistors.- Capacitors.- MOSFETs.- Ring Oscillators.- High Speed Characterization.- Test Structures of SOI Technology.- Test Equipment and Measurements.- Data Analysis.
