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Low Substrate Temperature Modeling Outlook of Scaled N-mosfet

Low Substrate Temperature Modeling Outlook of Scaled N-mosfet (Hardcover)

Nabil Shovon Ashraf (지은이), Kris Iniewski (엮은이)
Morgan & Claypool
111,650원

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Low Substrate Temperature Modeling Outlook of Scaled N-mosfet
eBook 미리보기

책 정보

· 제목 : Low Substrate Temperature Modeling Outlook of Scaled N-mosfet (Hardcover) 
· 분류 : 외국도서 > 기술공학 > 기술공학 > 전자공학 > 트랜지스터
· ISBN : 9781681733876
· 쪽수 : 89쪽
· 출판일 : 2018-07-13

목차

  • Preface
  • Acknowledgments
  • Introduction
  • Historical Perspectives of Scaled MOSFET Evolution
  • Simulation Results of On-State Drain Current and Subthreshold Drain Current at Substrate Temperatures Below 300 K
  • Simulation Results on Substrate Mobility and On-Channel Mobility of Conventional Long-Channel $n$-MOSFET at Substrate Temperatures 300 K and below
  • Simulation Outcomes of Subthreshold Slope Factor or Coefficient for Different Substrate Temperatures at the Vicinity of a Subthreshold Region to Deep Subthreshold Region of a Long-Channel $n$-MOSFET
  • Review of Scaled Device Architectures for Their Feasibility To Low-Temperature Operation Simulation Perspectives of the Author's Current Research
  • Summary of Research Results and Conclusions
  • References
  • Author's Biography
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