디지털 IC 테스트

CHAPTER 1 [디지털 IC 테스트 개요]
1.1 IC 테스트
1.2 IC 테스트의 목적
1.3 디지털 IC 테스트 개요
1.4 테스트 공정

CHAPTER 2 [반도체 소자와 IC 제조]
2.1 반도체
2.2 웨이퍼
2.3 반도체소자
2.4 디지털 논리회로
2.5 레이아웃

CHAPTER 3 [디지털 IC 및 규격]
3.1 직접회로
3.2 디지털 IC 분류
3.3 제조공정에 따른 IC 종류
3.4 디지털 IC의 전기적 특성

CHAPTER 4 [디지털 IC 테스트]
4.1 평션테스트
4.2 DC 파라메터 테스트
4.3 AC 파라메터 테스트

CHAPTER 5 [IC 테스트 기술]
5.1 테스트시간 단축
5.2 IC 특성분석
5.3 테스트 최적화
5.4 테스트 오류 제거

CHAPTER 6 [메모리 IC 테스트]
6.1 메모리 IC
6.2 SRAM
6.3 DRAM
6.4 메모리 고려사항
6.5 메모리 테스트 기술

CHAPTER 7 [테스트 장비]
7.1 ATE
7.2 핸들러
7.3 프로버
7.4 번인테스터

CHAPTER 8 [DFT]
8.1 DFT 소개
8.2 디지털 시스템의 고장
8.3 디지털 논리회로 테스트
8.4 DFT

부록 : 용어사전
찾아보기