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책 정보
· 제목 : Advanced Scanning Electron Microscopy and X-Ray Microanalysis (Hardcover, 1986)
· 분류 : 외국도서 > 과학/수학/생태 > 과학 > 전자현미경
· ISBN : 9780306421402
· 쪽수 : 454쪽
· 출판일 : 1986-03-31
· 분류 : 외국도서 > 과학/수학/생태 > 과학 > 전자현미경
· ISBN : 9780306421402
· 쪽수 : 454쪽
· 출판일 : 1986-03-31
목차
1. Modeling Electron Beam-Specimen Interactions.- 2. SEM Microcharacterization of Semiconductors.- 3. Electron Channeling Contrast in the SEM.- 4. Magnetic Contrast in the SEM.- 5. Computer-Aided Imaging and Interpretation.- 6. Alternative Microanalytical Techniques.- 7. Specimen Coating.- 8. Advances in Specimen Preparation for Biological SEM.- 9. Cryomicroscopy.- References.
