디지털 IC 테스트

제1장 디지털 IC 테스트 개요
1.1 반도체 IC 테스트
1.2 IC 테스트 기본 개념
1.3 IC 테스트 목적
1.4 고장 검출
1.5 IC 테스트 개요

제2장 디지털 IC
2.1 집적회로
2.2 디지털 IC 분류
2.3 제조공정에 따른 IC 분류
2.4 디지털 IC 전기적 특성
2.5 CMOS IC의 이해

제3장 디지털 IC 테스트
3.1 펑션 테스트
3.2 DC 파라메터 테스트 (DC Parametric Test)
3.3 AC 파라메터 테스트 (AC Parametric Test)

제4장 테스트 기술
4.1 메모리 소자

제5장 메모리 소자 테스트
5.1 메모리 소자
5.2 SRAM
5.3 DRAM
5.4 메모리 고려사항
5.5 메모리 IC 테스트 기술
5.6 메모리 테스터
5.7 테스트 장비 : 핸들러

제6장 DFT
6.1 디지털 시스템의 고장
6.2 디지털 논리회로 테스트
6.3 DFT