전자회로실험 (허찬욱)

실험1. 반도체 다이오드의 특성실험
실험2. CLIPPER 및 CLAMPER 회로 실험
실험3. 트랜지스터의 특성실험(1)
실험4. 트랜지스터의 특성실험(2)
실험5. 트랜지스터의 특성실험(3)
실험6. 트랜지스터의 3가지 동작영역
실험7. 트랜지스터의 bias 회로(1) 베이스 bias
실험8. 트랜지스터의 bias 회로(2) 베이스 bias
실험9. 트랜지스터의 안정도 실험
실험10. 전압분배 bisas CE 증폭기
실험11. 전압분배 bisas CC 증폭기
실험12. 전압분배 bisas CB 증폭기
실험13. 트랜지스터 증폭기의 부화선
실험14. 직결합 증폭기
실험15. B급 푸쉬폴 전력증폭기
실험16. C급 전력증폭기
실험17. JFET의 특성실험
실험18. JFET의 바이어스
실험19. 공통 소스 JFET회로
실험20. CD JFET
실험21. CG JFET
실험22. 비안정 멀티바이브레이터 실험
실험23. 단안정 멀티바이브레이터
실험24. UJT를 이용한 발진회로
실험25. PUT를 이용한 발진회로
실험26. 채터링 제거회로