전자회로실험

PART 1｜전자회로실험
실험 00. 실험을 위한 기초지식 3
실험 01. 저항 측정 12
실험 02. 전압과 전류의 측정 19
실험 03. 분압, 분류 법칙 25
실험 04. 키르히호프의 법칙(Kirchhoff's Law) 37
실험 05. 테브닌의 정리(Thevenin's theorem) 47
실험 06. 최대 신호(전력) 전달 57
실험 07. 중첩의 정리(Superposition Theorem) 63
실험 08. 회로 해석 방법 71
실험 09. 커패시터(Capacitor) 81
실험 10. RC 직렬회로의 충?방전 특성 89
실험 11. 직렬 RLC 공진 회로의 공진 특성 97
실험 12. 다이오드(Diode) 순방향/역방향 특성 105
실험 13. 다이오드 정류회로 113
실험 14. 다이오드 클리퍼(clipper) 회로 123
실험 15. 다이오드 클램퍼(clamp) 회로 131
실험 16. 제너다이오드(Zenor Diode)의 특성 139
실험 17. 트랜지스터(Transistor) 특성곡선 149
실험 18. 트랜지스터 스위칭 회로 161
실험 19. 트랜지스터 전압분배 바이어스 회로 169
실험 20. 트랜지스터 소신호(small signal) 증폭기 175
실험 21. 공통 콜렉터(common collector : CC) 증폭기 183
실험 22. 다단 증폭기 191
실험 23. 대신호 증폭기(전력 증폭기) 201
실험 24. JFET(Junction Field-Effect transistor) 전압-전류 특성 209
실험 25. 공통 소스(Common-Source) 증폭기 219
실험 26. 연산증폭기(Operational Amplifier) 파라미터 227
실험 27. 비반전(Non-inverting) 연산증폭기 회로 235
실험 28. 반전(Inverting) 연산증폭기 회로 245
실험 29. 연산증폭기의 동상신호 제거비(CMRR) 253
실험 30. 가산기(Adder) 회로 261
실험 31. 비교기(Comparator)와 슈미트트리거(Schmitt trigger) 회로 269
실험 32. 계측용 증폭기(Instrumental Amplifier) 279
실험 33. 연산증폭기 적분기(Integrator) 287
실험 34. 연산증폭기 미분기(Differentiator) 295
실험 35. 윈브리지(Wien-bridge oscillator) 발진기 303
실험 36. 콜피츠(Colpitts) 발진기 331
실험 37. 555 타이머를 이용한 발진기 319
실험 38. 버터워스 2차 저역 통과 필터 327
실험 39. 버터워스 2차 고역 통과 필터 337
실험 40. 능동 대역 통과 필터 347

PART 2｜Multisim 사용하기 355
제1장 Multisim(Ver14.1)의 개요 및 설치하기 357
1-1. Multisim의 개요 357
1-2. Multisim(Ver.14)의 특징 358
1-3. 설치에 필요한 시스템 요구 사항 358
1-4. Multisim(Ver14.1) Trial Version 설치하기 358
제2장 Multisim 사용하기 363
2-1. Multisim의 화면 구성 363
2-2. 새로운 디자인 파일 만들기 364
2-3. 툴바 설정 364
2-4. 회로 디자인(Schematic Capture) 364
2-5. 환경 설정 381
제3장 Multisim의 부품(Components) 386
3-1. 부품 데이터베이스의 구조 386
3-2. 부품 가져오기 386
3-3. 부품의 검색(Searching) 387
3-4. 부품 추가하기 388
3-5. 부품 수정하기 396
3-6. 3D Real 부품 만들기 398
제4장 회로 설계 마법사 405
4-1. 회로 마법사(Circuit Wizard) 405
부록 : 실험에 사용된 각종 부품의 DataSheet 415
1. 정류용 다이오드 417
2. 소신호용 다이오드 419
3. 제너다이오드 421
4. 트랜지스터(npn) 423
5. 트랜지스터(pnp) 425
6. FET 427
7. 연산증폭기 430
8. 타이머 IC 434

· 참고문헌 439