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책 정보
· 제목 : Electromigration Inside Logic Cells: Modeling, Analyzing and Mitigating Signal Electromigration in Nanocmos (Paperback)
· 분류 : 외국도서 > 기술공학 > 기술공학 > 전자공학 > 회로
· ISBN : 9783319840413
· 쪽수 : 118쪽
· 출판일 : 2018-07-05
· 분류 : 외국도서 > 기술공학 > 기술공학 > 전자공학 > 회로
· ISBN : 9783319840413
· 쪽수 : 118쪽
· 출판일 : 2018-07-05
목차
Chapter 1. Introduction.- Chapter 2. State of the Art.- Chapter 3. Modeling Cell-internal EM.- Chapter 4. Current Calculation.- Chapter 5. Experimental Setup.- Chapter 6.Results.- Chapter 7. Analyzing the Electromigration Effects on Different Metal Layers.- Chapter 8. Conclusions.
