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Progress in Transmission Electron Microscopy 2: Applications in Materials Science

Progress in Transmission Electron Microscopy 2: Applications in Materials Science (Paperback)

Ze Zhang, Xiao-Feng Zhang (지은이)
Springer Verlag
188,730원

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Progress in Transmission Electron Microscopy 2: Applications in Materials Science
eBook 미리보기

책 정보

· 제목 : Progress in Transmission Electron Microscopy 2: Applications in Materials Science (Paperback) 
· 분류 : 외국도서 > 과학/수학/생태 > 과학 > 전자현미경
· ISBN : 9783642087189
· 쪽수 : 307쪽
· 출판일 : 2010-10-19

목차

1. The Guidance Role of HRTEM in Developing Mesoporous Molecular Sieves.- 2. HREM Study of Carbon Nanoclusters Grown from Carbon Arc-Discharge.- 3. Determining the Helicity of Carbon Nanotubes by Electron Diffraction.- 4. Low-Dimensional Materials and their Microstructures Studied by High-Resolution Electron Microscopy.- 5. Microstructure of High-Tc Superconducting Josephson Junctions.- 6. Swift Heavy Ion Irradiation Damage in Superconductors.- 7. TEM Investigations of Misfit Dislocations in Lattice-Mismatched Semiconductor Heterostructures.- 8. Dislocated Contrast Analysis.- 9. Transmission Electron Cryomicroscopy and Three-Dimensional Reconstruction of Macromolecular Complexes.

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